在测量半导体材料电阻率时,为什么要求待测面平整、粗糙
题目
在测量半导体材料电阻率时,为什么要求待测面平整、粗糙
答案
在采用四探针法测量电阻率时,金属探针不能与半导体形成整流接触,故打毛表面以破坏肖特基势垒的作用.
只有表面平整,才能较好地满足四探针技术的要求,以使测量准确.
举一反三
已知函数f(x)=x,g(x)=alnx,a∈R.若曲线y=f(x)与曲线y=g(x)相交,且在交点处有相同的切线,求a的值和该切线方程.
我想写一篇关于奥巴马的演讲的文章,写哪一篇好呢?为什么好
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